第52回 X線分析討論会
主催
日本分析化学会X線分析研究懇談会
協賛
資源・素材学会ほか
開催日
2016年10月26日（水）～2016年10月28日（金）
会場
筑波大学東京キャンパス文京校舎（〒112-0012 東京都文京区大塚3-29-1）
討論主題
- 新X線源による新たな分析の可能性
- 埋もれた薄膜界面のX線分析
- X線検出器技術の新展開
主要日程
講演申込期間：2016年7月1日（金）～2016年7月27日（水）
講演要旨受付期間：2016年8月1日（月）～2016年9月5日（月）
予約登録期間：2016年7月1日（金）～2016年7月31日（日）
申込方法
第52回X線分析討論会ホームページ（http://www.nims.go.jp/xray/xbun/X52/）上で申し込みを受け付けます。
その他
1）口頭・ポスター発表の区別は実行委員会にご一任ください。なお，口頭発表は1講演20分（招待講演は40分，いずれも討論時間5分を含む）です。
2）上記期間内に2ページ以上4ページ以下（招待講演者の方は6ページ以上8ページ以下）の講演要旨の電子ファイルをご提出ください。ファイル形式はWordでお願いします。講演申し込み受付時にテンプレートをお渡しします。
3）ぜひ「X線分析の進歩」（アグネ社）へのご寄稿もお願いします（原稿受付期間は8月1日（月）～10月28日（金）です）。講演申し込み受付時に投稿要領とテンプレートをお渡しします。
4）講演申し込みにより自動的に参加登録も行なわれますので，参加登録料の入金をお忘れなくお願いします。
5）参加登録をされた方は10月12日（水）から講演要旨集電子ファイルの事前ダウンロードの特典があります。
6）最新の情報は，X線分析研究懇談会ホームページ（http://www.nims.go.jp/xray/xbun/index.htm）および第52回X線分析討論会ホームページ（http://www.nims.go.jp/xray/xbun/X52/）をご覧ください。
参加費（予定）
一般予約：4,500円，一般当日：6,000円，学生：3,000円
問合せ先
国立研究開発法人物質・材料研究機構高輝度光解析グループ 桜井健次
〒305-0047茨城県つくば市千現1-2-1
FAX 029-859-2801 E-mail sakurai@yuhgiri.nims.go.jp
※学術・研究機関以外のドメインからメールを送られる方は，事前にFAXでご連絡ください。